[기타] 제2회 연구장비전문가 자격검정 안내
- 산학지원팀
- 송문수
- 작성일 2016-06-23
- 조회수 5938
1. 한국기초과학지원연구원은 연구장비의 효율적 관리 및 활용도 제고와 연구장비 운용인력을 전문직으로 정착시키기 위하여 경쟁력을 갖춘 전문교육과 자격제도를 운영중에 있습니다.
2. 이와 관련하여, 제2회 연구장비전문가 자격검정을 시행 안내 드립니다.
가. 시험시행일정
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구분 |
원서접수기간 |
시험장소 |
시행지역 |
시험일자 |
합격자발표 |
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제1차 필기시험 |
2016.6.27(월) 09:00~ 2016.7.11(월) 18:00 |
홈페이지 게재 (2016.7.29.) |
대 전 |
2016.8.27(토) |
2016.9.23(금) |
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제2차 구술시험 |
2016.10.17(월) 09:00~ 2016.10.31(월) 18:00 |
2016.11.12.(토)~
2016.11.26.(토) |
2016.12.16(금) |
나. 검정과목 및 검정 방법
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검정분야 |
검정과목 |
검정방법 |
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현미경 분석 (4과목) |
주사 전자현미경(SEM) |
○ 1차 필기시험 - 형태 : 객관식(4지선다형) - 문항수 : 80문항(분야당) - 시험시간 : 120분(분야당)
○ 2차 구술시험 - 형태 : 심층면접 - 시험시간 : 60분(분야당) |
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투과 전자현미경(TEM) |
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주사 탐침현미경(SPM) |
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공초점 레이저현미경(CLSM) |
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분리 분석 (5과목) |
액체 크로마토그래프(LC) |
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기체 크로마토그래프(GC) |
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이온 크로마토그래프(IC) |
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액체 크로마토그래프 질량 분석기(LC/MS) |
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기체 크로마토그래프 질량 분석기(GC/MS) |
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분광 분석 (5과목) |
자외선·가시광선 분광 광도계(UV/Vis) |
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푸리에변환 적외선 분광기(FT-IR) |
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핵자기 공명 분광기(NMR) |
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원자흡수광도계(AAS) |
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유도결합 플라즈마 질량 분석기(ICP/MS) |
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엑스선 분석 (3과목) |
엑스선 형광 분석기(XRF) |
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엑스선 광전자 분광기(XPS) |
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엑스선 회절 분석기(XRD) |
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물성 분석 (3과목) |
열 분석기(TA) |
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입도 분석기(PSA) |
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원소 분석기(EA) |
다. 응시자격
○ 연구장비 관련 1년 이상의 교육과정 또는 1,400시간 이상 이수한 자
○ 고졸자로 연구장비 운영경력이 5년 이상 인정되는 자
붙 임 : 제2회 연구장비전문가 자격검정 시행계획 공고문